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EPSON-NSCN晶體電路評估聯(lián)合測試中心-服務項目
CE測試檢測項目
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晶振負性阻抗測試
晶體在設計和使用的過程中，用戶會發(fā)現(xiàn)其起振時間過長以及工作過程中意外停振等不穩(wěn)定的情況，導致系統(tǒng)工作異常等嚴重后果。 EPSON-NSCN晶體電路評估聯(lián)合測試中心將在晶體回路中串入可調(diào)電阻，從小到大改變電阻阻值，選擇使回路停振之前的阻值作為-R的評估值。用相同方法測試更改負載電容后回路的負性阻抗值，并保存數(shù)據(jù)對比?？梢允垢淖冊O計后的回路負阻抗顯著提高。 -
頻率精度測試
負載電容(CL)是用來決定在振蕩電路中晶振頻率的參數(shù)，從加在振蕩電路中晶振兩端的電容可知負載容量。因電路的負載電容的不同，晶振的頻率會相應的產(chǎn)生變動。為了獲得目標的頻率精度，必須使晶振于負載電容相配。 。通過晶體電路評估測試（CE測試），我們將為你找到最佳外接負載電容值，提供高精度的線路匹配方案。 -
驅(qū)動功率測試
每顆晶體在工作時都不能超過它的最大功率值，如果超出將導致頻率偏差變大，晶體溫度升高嚴重的可以導致晶體永久損壞，從而導致系統(tǒng)崩潰。 EPSON-NSCN晶體電路評估聯(lián)合測試中心通過專業(yè)的驅(qū)動功率測試方法和專業(yè)設備,獲得針對特試晶振回路的驅(qū)動功率準確上限數(shù)據(jù)。
